Neuerscheinungen
Zum Inhalt springen
  • Startseite
  • zur Homepage FAU University Press
Sie befinden sich hier:   Startseite » Allgemein » Contact related Failure Detection of Semiconductor Layer Stacks using an Acoustic Emission Test Method
28
Sep
2020
Allgemein, FAU Forschungen, Reihe B, Medizin, Naturwissenschaft, Technik

Contact related Failure Detection of Semiconductor Layer Stacks using an Acoustic Emission Test Method

Cover zu Contact related Failure Detection of Semiconductor Layer Stacks using an Acoustic Emission Test Method

Cover zu Contact related Failure Detection of Semiconductor Layer Stacks using an Acoustic Emission Test MethodUnterreitmeier, Marianne (Autor)
2020. xxiv. 324 Seiten
ISBN13: 978-3-96147-305-2

51,50 €

 

kaufen

Zugriff auf den Volltext über OPUS FAU: http://opus4.kobv.de/opus4-fau/frontdoor/index/index/docId/14478

Beitragsnavigation

← Assistenzsystem zur Unterstützung der datengetriebenen Produktentwicklung Evaluation und Aufbereitung von Produktsimulationen mittels abweichungsbehafteter Geometriemodelle →

Kategorien

  • Allgemein
  • Ausgezeichnete Abschlussarbeiten der Erlanger Geschichtswissenschaft
  • Einzeltitel
  • Erlanger Forschungen : Reihe A
  • Erlanger Forschungen : Reihe B
  • Erlanger Migrations- und Integrationsstudien
  • FAU Forschungen, Reihe A, Geisteswissenschaften
  • FAU Forschungen, Reihe B, Medizin, Naturwissenschaft, Technik
  • FAU Kunst und Bildung
  • FAU Lehren und Lernen
  • FAU Studien aus dem Maschinenbau
  • FAU Studien aus der Elektrotechnik
  • FAU Studien aus der Informatik
  • FAU Studien aus der Philosophischen Fakultät
  • FAU Studien aus der Rechtswissenschaft
  • FAU Studien Gender Differenz Diversität
  • FAU Studien Materialwissenschaft und Werkstofftechnik
  • FAU Studien zu Menschenrechten
  • FAU Studies Chemical and Biological Engineering
  • FAU Studies Mathematics & Physics
  • Kleine Schriften zu Kultur und Geschichte der Friedrich-Alexander-Universität
  • Zeitschriften

Archive

Technical Menu

  • Blogs@FAU
  • Hilfe
  • Kontakt
  • Impressum
  • Datenschutz
  • Nutzungsbedingungen
  • Startseite
  • zur Homepage FAU University Press